參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.平面度測(cè)量：分辨率0.1μm,，測(cè)量范圍Φ300mm

2.垂直度驗(yàn)證：角度誤差≤2",，基準(zhǔn)面平面度≤0.5μm

3.同軸度分析：徑向跳動(dòng)量≤0.8μm/100mm

4.圓度評(píng)定：采樣點(diǎn)≥1024點(diǎn)/圓周，評(píng)定算法符合ISO12181

5.直線度校準(zhǔn)：導(dǎo)軌運(yùn)動(dòng)誤差≤0.3μm/200mm

檢測(cè)范圍

1.金屬材料：航空發(fā)動(dòng)機(jī)葉片基座（TC4鈦合金）

2.陶瓷基板：半導(dǎo)體封裝用Al?O?基板（厚度0.5-3mm）

3.復(fù)合材料：碳纖維增強(qiáng)聚合物（CFRP）結(jié)構(gòu)件

4.光學(xué)元件：非球面透鏡（曲率半徑R50-R500mm）

5.精密模具：注塑模芯（硬度HRC58-62）

檢測(cè)方法

1.ISO1101:2017《產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)幾何公差形狀,、方向,、位置和跳動(dòng)公差》

2.ASTME177-14《測(cè)量不確定度表示指南》

3.GB/T1958-2017《產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)形狀和位置公差檢測(cè)規(guī)定》

4.ISO12180-2:2011《圓柱度評(píng)定準(zhǔn)則》

5.GB/T11336-2004《直線度誤差檢測(cè)》

檢測(cè)設(shè)備

1.TaylorHobsonTalyrond585：圓度/圓柱度測(cè)量精度0.01μm

2.MitutoyoCRYSTA-ApexS574：多傳感器復(fù)合測(cè)量系統(tǒng)

3.ZeissACCURAII：三坐標(biāo)等高儀集成方案

4.MahrMarFormMMQ400：表面輪廓+形狀誤差綜合測(cè)量機(jī)

5.TokyoSeimitsuSURFCOMFLEX-AXL：非接觸式激光等高儀

6.HexagonLeitzPMM-FInfinity：溫度補(bǔ)償型超高精度測(cè)量系統(tǒng)

7.KeyenceLJ-V7000系列：線激光掃描式高速等高儀

8.JenoptikHommel-EtamicW10：納米級(jí)表面形貌分析儀

9.RenishawREVO五軸測(cè)量系統(tǒng)：動(dòng)態(tài)等高數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)

10.WenzelLHGOLD：大型龍門(mén)式等高測(cè)量中心

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)